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应用领域: 主要用于表面化学组成及化学态、表面化学图像、微区定性、半定量分析、样品深度剖析、表面理论等研究,可进行XPS常规谱图、XPS成像、样品表面清洁、样品深度刻蚀、角分辨测试(ARXPS)、离子散射谱(ISS)、紫外光电子能谱(UPS)等测试。 |
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